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2-16.pits

2. Definition der dimensionalen Eigenschaften, Terminologie und Methoden von Siliciumcarbidwafern

2-16.pits

2018-01-08

einzelne unterscheidbare Oberflächenanomalien, die als Vertiefung in der Waferoberfläche mit auftritt ein Länge-zu-Breite-Verhältnis von weniger als 5 zu 1 und unter Beleuchtung mit hoher Intensität sichtbar.


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