Siliziumtröpfchen können entweder als kleine Hügel oder Vertiefungen in der Waferoberfläche erscheinen. normalerweise abwesend, aber wenn vorhanden, sind sie hauptsächlich am Umfang des Wafers konzentriert. Wenn vorhanden, schätzen Sie den Prozentsatz der betroffenen Fläche ab.
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